 ПОЗНАВАТЕЛЬНОЕ Сила воли ведет к действию, а позитивные действия формируют позитивное отношение Как определить диапазон голоса - ваш вокал Игровые автоматы с быстрым выводом Как самому избавиться от обидчивости Противоречивые взгляды на качества, присущие мужчинам Вкуснейший "Салат из свеклы с чесноком" Натюрморт и его изобразительные возможности Применение, как принимать мумие? Мумие для волос, лица, при переломах, при кровотечении и т.д. Как научиться брать на себя ответственность Зачем нужны границы в отношениях с детьми? Световозвращающие элементы на детской одежде Как победить свой возраст? Восемь уникальных способов, которые помогут достичь долголетия Классификация ожирения по ИМТ (ВОЗ) Глава 3. Завет мужчины с женщиной
Оси и плоскости тела человека - Тело человека состоит из определенных топографических частей и участков, в которых расположены органы, мышцы, сосуды, нервы и т.д.
| Методи дослідження наносистем. Атомна-силова і магнітно-силова мікроскопія.
Більшість наноструктур виявляє кристалічний характер атомного розподілу і тому звичайні дифракційні методи можна використовувати для їх дослідження. Але враховуючи особливості наноструктурованого стану необхідно залучати інші методи, які б давали більше інформації про стан поверхні, дозволяли точніше визначити розміри наночастинок та їх розміщення одна відносно одної в матеріалі. Необхідно також знайти відносну частку наночастинок кожного типу і різного розміру в наносистемі. Тому, крім рентгеноструктурного методу, нейтроногорафії і електронографії також використовують скануючу зондову і електронну мікроскопію, різні види спектроскопії, ядерний магнітний резонанс та інші. На сьогодні найбільше інформації про структуру наносистем отримують з допомогою методів скануючої зондової мікроскопії (СЗМ). Своєю чергою атомно-силовий мікроскоп став родоначальником широкого сімейства скануючих зондових пристроїв, які продовжують збільшуватися і дотепер. Магніто-силовий мікроскоп використовує крім ван-дер-ваальсових сил, магнітні дипольні сили. В процесі віддалення на віддаль 10÷50нм на зону здійснюють вплив практично лише магнітні сили. У такому випадку відхилення зонда від прямолінійного руху пов’язане саме з магнітною взаємодією. Схема дії магнітосилового мікроскопа показана на рис. 9.2
Рис. 9.2. Схема дії магніто-силового мікроскопа.
Припускається, що при взаємодії голки з поверхнею, цю голку можна вважати магнітним диполем. Для оцінки сили взаємодії між цим диполем і поверхнею знайдемо спочатку напруженість, яку створює магнітний кластер на віддалі
де Отже, сила взаємодії між голкою і магнітним кластером дорівнює:
З іншого боку, величину цієї сили можна визначити шляхом перемножування відхилення кантилевера і його жорсткості. Метод зонда Кельвіна запропоновано для вимірювання контактної різниці потенціалів між зондом і зразком. Він грунтується на двохпрохідній методиці. У першому проході визначається рельєф поверхні зразка з використанням переривчато-контактного методу, коли коливання контилевера збуджується механічно. На другому проході цей рельєф відслідковується під час проходження над зразком на деякій висоті для того, щоб визначити поверхневий електричний потенціал. Протягом другого проходу коливання кантилевера збуджується не механічно, а електрично шляхом прикладання до зонда напруги зміщення, яка містить статичний і динамічний компоненти. Під час сканування поверхні відділяють геометричний фактор рельєфа від магнітного. Для цього зонд проходить по одному тому самому місцю два рази. Перший раз він рухається по поверхні зразка у контакті з нею, запам’ятовуючи при цьому траєкторію свого руху. Під час повторного руху на зонд діють вже не контактні сили, а далекодіючі. Відхилення зонда від попередньої траєкторії визначатиметься магнітними властивостями поверхні. Магнітна силова мікроскопія дозволяє проводити дослідження магнітних доменних структур. Крім магнітосилової мікроскопії використовують також і електро-силову мікроскопію. Існує декілька режимів цього методу, але найбфльше застосовують безконтактний метод. Здійснюють два проходження зонда по поверхні. Під час другого проходження кантилевер приводить у коливний стан з резонансною частотою. При цьому кантилевер заземлюють або надають йому сталого зміщення потенціалу
|
від нього:
,
– одиничний радіус –вектор вздовж вибраного напрямку; 
– магнітний момент кластера.
.
. Ємнісна сила взаємодії зонд-зразок призводить до зсуву резонансної частоти. Відповідно амплітуда коливань кантилевера зміщується і фаза його коливань зсувається. За цих умов амплітуду і фазу коливань можна виміряти і використати для відображення розподілу електричного потенціалу на поверхні зразка.